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四探針電阻率測試儀/四探針電阻率儀/方阻測試儀/方阻儀/四探針電阻率測定儀（自動測試臺+帶軟件）
產品簡介
product
產品分類四探針電阻率測試儀/四探針電阻率儀/方阻測試儀/方阻儀/四探針電阻率測定儀（自動測試臺+帶軟件） 型號：DP-KDY-1
四探針電阻率/方阻測試儀（以下簡稱電阻率測試儀）是用來測量半導體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠方塊電阻的測量儀器。它主要由電氣測量份（簡稱：主機）、測試架及四探針頭組成。
本儀器的特點是主機配置雙數字表，在測量電阻率的同時，另塊數字表（以分之幾的度）適時監測程的電流變化，免除了測量電流/測量電阻率的轉換，更及時掌控測量電流。主機還提供度為0.05%的恒流源，使測量電流度穩定。本機配有恒流源開關，在測量某些箔層材料時，可免除探針尖與被測材料之間接觸火花的發生，地保護箔膜。儀器配置了本公司的產品：“小游移四探針頭”，探針游移率在0.1～0.2%。保證了儀器測量電阻率的重復性和準確度。本機如加配HQ-710E數據處理器，測量硅片時可自動行厚度、直徑、探針間距的修正，并計算、打印出硅片電阻率、徑向電阻率的zui大百分變化、平均百分變化、徑向電阻率不均習庋。給測量帶來很大方便。
2、主機能數
（1）測量范圍：
可測電阻率：0.0001～19000Ω•cm
可測方塊電阻：0.001～1900Ω•□
（2）恒流源：
輸出電流：DC 0.001～100mA 五檔連續可調
量程：0.001～0.01mA
0.01～0.10mA
0.10～1.0mA
1.0～10mA
10～100mA
恒流度：各檔均低于±0.05%
（3）直流數字電壓表：
測量范圍：0～199.99mV
靈敏度：10μV
基本誤差：±（0.004%讀數+0.01%滿度）
輸出電源：≥1000ΩM
（4）供電電源：
AC 220V±10% 50/60 Hz 率：12W
（5）使用環境：
溫度：23±2℃ 相對濕度：≤65%
無較強的電場干擾，無強光直接照射
（6）重量、體積：
主機重量：7.5kg
體積：365×380×160（單位：mm 長度×寬度×度）
備注：
等級測量時（測電阻率），度<3%
電氣測量時（測電阻），度在0.3%以內
備注：
儀器包括：主機臺；測試架（包括臺面）個；四探針頭1個；軟件
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膩子動態抗開裂試驗儀/膩子動態抗開裂檢測儀 型號：DP-DKL
膩子動態抗開裂試驗儀說明：
DP-DKL 膩子動態抗開裂試驗儀通過使基材在規定區域逐步產生細微裂紋并控制裂紋緩慢發展，觀察膩子層的開裂情況，判斷膩子產品抵抗基材裂紋擴展的能力，檢測結果以基材開裂而膩子層不開裂時的基材zui大裂紋寬度表示，單位為毫米（mm）。
該儀器適用于膩子動態抗開裂性能的檢測，也可用于檢測其他柔性或彈性材料的性能。
膩子動態抗開裂試驗儀主要參數：
刀長15cm，是硬度鋼制成
刃口夾角：30度
zui大升程：20mm
上升速率：3mm/min
刀移動量zui小值為0.01mm
訂購信息：DP-DKL 膩子動態抗開裂試驗儀
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